Koleksi Nasional

Sort By

Pencarian Lanjutan

Menampilkan 1 - 2 of 2 untuk pencarian: 'Birkholz, Mario', lama mencari: 0.04s

Menampilkan 1 - 2 of 2 untuk pencarian: 'Birkholz, Mario', lama mencari: 0.04s

Thin film analysis by X-ray scattering

Book

oleh Birkholz, Mario

Terbitan : Weinheim : Wiley-VCH Verlag, c2006, 2006
Institusi : Institut Teknologi Sepuluh Nopember Surabaya
Gedung :

Lokasi Repository IOS Number
IOS4670.JATIM000000000083332

Search Tools: Get RSS Feed Email this Search