: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT: A PUBLICATION OF THE IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT SOCIETY, VOL.52, NO.3, JUNE 2003
Book
oleh
H. Shao
,
A. Ferrero
,
S. Baglio
,
D.W. Braudaway
,
F. Lopez Pena
,
R. J. Duro
,
Y. Su
,
C.R. Allen
,
D. Geng
,
D. Burn
,
U, Brechany
,
G. D. Bell
,
R. Rowland
,
L. Valet
,
G. Mauris
,
P. Bolon
,
N. Keskes
,
M. Bertocco
,
S. Capellazo
,
A. Carullo
,
M. Parvis
,
A. Vallan
,
F. Pianegiane
,
D. Macii
,
P. Carbone
,
G. Moschioni
,
D. Fischer
,
, B. Szabados
,
W.F.S. Poehlman
,
S. Salicone
,
C. Bonora
,
M. Parmigiani
,
F. Amigoni
,
A. Brandolini
,
G.D’ Antona
,
R. Ottoboni
,
M. Somalvico
,
J.L. Crespo
,
R.J. Duro
,
S. -S. Xiong
,
Z. -Y. Zhou
,
J. Schoukens
,
W. Jin
,
S. Qian
,
E. Foti
,
T. Antonakopuolos
,
, E. Ziova
,
V. Makios
,
C. -B. Wu
,
B.-D. Liu
,
J.-F. Yang
,
K.-S. Low
,
M.-T. Keck
Terbitan |
: THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINERS,Inc, 2003 |
Institusi |
:
DEFAULT |
Gedung |
:
|