Analisis Pengendalian Kualitas Waferstick dengan Metode Taguchi Untuk Menurunkan Cacat Produk Di PT. Seasonal Supplies Indonesia
| Main Author: | Dwi Setiawan, . |
|---|---|
| Format: | Lainnya NonPeerReviewed Book |
| Bahasa: | ind |
| Terbitan: |
Universitas Pamulang
, 2018
|
| Subjects: | |
| Online Access: |
http://eprints.unpam.ac.id/7908/1/Cover%20Gabungan.pdf http://eprints.unpam.ac.id/7908/2/BAB%20I.pdf http://eprints.unpam.ac.id/7908/3/BAB%20II.pdf http://eprints.unpam.ac.id/7908/4/BAB%20III.pdf http://eprints.unpam.ac.id/7908/5/BAB%20IV.pdf http://eprints.unpam.ac.id/7908/6/BAB%20V.pdf http://eprints.unpam.ac.id/7908/ |
Daftar Isi:
- dibidang produksi waferstick. Pada penelitian ini membahas faktor apakah yang paling berpengaruh terhadap terjadinya cacat lilitan bergelombang pada waferstick berdasarkan perhitungan tabel respon dengan metode Taguchi. Hasil dari metode Taguchi dapat di uraikan sebagai berikut: Setelah di lakukan pengujian didapatkan kesimpulan bahwa faktor yang berpengaruh adalah pada Faktor C dengan faktor level 1 (Viskositas Adonan level Low yaitu 6000 cps) Faktor A dengan faktor level 2 (Suhu Oven level Medium yaitu 160 oC), Faktor B dengan faktor level 1 (Tebal Kulit level Low yaitu 2.2 mm). Sedangkan hasil dari pengolahan data ANOVA didapat nilai-nilai hasil uji Anova antara lain: Faktor C memiliki nilai F hitung = 5.90 dan F tabel = 3.37. Faktor A memiliki nilai F hitung = 5.28 dan F tabel = 3.37. Faktor B memiliki nilai F hitung = 3.73 dan F tabel = 3.37.. Dengan melihat nilai F hitung > F tabel faktor C,A dan B maka Ho ditolak. Jadi ada pengaruh dari faktor C,A dan B terhadap hasil eksperimen. Penulis mengusulkan untuk menurunkan cacat produk waferstick perlu dilakukan kajian rutin setiap periode waktu tertentu terhadap standard viskositas adonan, standard suhu oven serta dibuat standard tebal kulit waferstick sebagai acuan operator, Penambahan ventilasi di area proses produksi untuk menciptakan lingkungan kerja yang lebih nyaman, Melakukan pelatihan bagi operator sesuai dengan jadwal yang ditentukan untuk meningkatkan keahlian operator sehingga dapat meningkatkan kualitas produk waferstick dan mengurangi cacat produk. Kata kunci: Pengendalian Kualitas, Taguchi, Cacat